Hitachi High-Tech lance les microscopes à force atomique faciles à utiliser AFM100 et AFM100 Plus

TOKYO, 17 juin 2021 – (JCN Newswire) – Hitachi High-Tech Corporation a annoncé le lancement des systèmes AFM100 et AFM100 Plus – des modèles d’entrée de gamme et de niveau intermédiaire des microscopes à force atomique (AFM) compacts et polyvalents d’Hitachi. Ces outils sont conçus pour offrir une facilité d’utilisation et une fiabilité supérieure pour les applications de R&D ou de contrôle qualité à haut débit.

L’AFM est un type de microscope à sonde à balayage (SPM) qui balaye la surface d’un échantillon à l’aide d’une pointe acérée généralement avec un rayon de quelques nanomètres (1 nanomètre = 1/1 000 000 millimètre). L’AFM peut fournir à la fois une visualisation haute résolution de la morphologie de surface et une cartographie simultanée de diverses autres propriétés physiques à l’échelle nanométrique. Par conséquent, l’AFM est intensivement utilisé pour la recherche et le développement scientifiques, ainsi que pour le contrôle de la qualité dans un large éventail de domaines industriels, tels que l’examen des matériaux de batterie, des semi-conducteurs, des polymères, des organismes vivants, etc.

Le fonctionnement conventionnel de l’AFM peut prendre beaucoup de temps et être exigeant. Le flux de travail contient certaines étapes obligatoires telles que le chargement manuel d’un petit cantilever (environ 1 mm de large) avec une pince à épiler à l’emplacement cible, la détermination de la bonne force d’interaction entre la pointe et l’échantillon ainsi que l’ajustement de la vitesse de numérisation, ce qui peut impliquent des essais de va-et-vient. En conséquence, le débit global du début de la configuration de l’outil à la fin de l’acquisition des données était relativement faible. De plus, la qualité et la fiabilité des données AFM acquises peuvent varier considérablement d’une personne à l’autre, car la sélection d’un type approprié de porte-à-faux et l’optimisation d’un ensemble de paramètres d’imagerie dépendent fortement de l’expérience et des niveaux de compétence de l’opérateur.

L’AFM100 et l’AFM100 Plus développés par Hitachi High-Tech répondent à ces problèmes et visent à accroître l’expansion de la technologie AFM dans les domaines industriels, scientifiques et de recherche et développement. L’AFM100 et l’AFM100 Plus offrent une extrême facilité d’utilisation et assurent la cohérence d’opérateur à opérateur. En particulier, l’AFM100 Plus peut être utilisé dans une grande variété d’applications, y compris l’imagerie haute résolution de nanomatériaux tels que le graphène et les nanofibres de carbone, l’observation de formes 3D sur de larges zones dépassant 0,1 mm, l’analyse de rugosité et les évaluations de propriétés physiques.

Les principaux avantages de ces produits sont les suivants :

1. Amélioration de la convivialité, de la fiabilité et du débit total

Pour rendre le chargement/déchargement en porte-à-faux beaucoup plus facile, un porte-à-faux prémonté (1) nouvellement développé a été adopté et il peut améliorer considérablement la convivialité. De plus, ces instruments sont dotés d’une fonction de pilote automatique qui optimise automatiquement les paramètres de mesure, contrôle la force d’interaction entre la pointe et l’échantillon et ajuste la vitesse de balayage, réduisant ainsi les erreurs humaines. Par conséquent, une acquisition de données fiable et cohérente peut être facilement réalisée. Le système prend également en charge la mesure multipoint avec une recette, ce qui permet une collecte et un stockage automatisés des données tout au long du processus de mesure en un seul clic, ce qui permet d’augmenter considérablement le débit total.

2. Corrélation renforcée avec le SEM d’Hitachi High-Tech

La fonction de marquage AFM en option utilise la solution S?Mic développée à l’origine par Hitachi High-Tech. S?Mic (Scanning Atomic and Electron Microscopy) est une technique d’imagerie corrélée qui améliore la compatibilité entre l’AFM et les microscopes électroniques à balayage (SEM). Plus précisément, l’AFM et le SEM peuvent être utilisés pour examiner l’échantillon aux mêmes emplacements, ce qui permet une approche analytique multiplateforme et multiforme pour obtenir des caractérisations complètes des propriétés mécaniques, électriques et compositionnelles de l’échantillon.

3. Évolutif et durable

Le système est livré avec le téléchargement gratuit à vie d’un nouveau logiciel de contrôle et une fonction d’auto-vérification qui peut diagnostiquer automatiquement la cause première des dysfonctionnements en standard, contribuant à une longue durée de vie pour les utilisateurs. Cela permet aux utilisateurs de maintenir leur équipement à jour et performant à son plus haut niveau.

Hitachi High-Tech s’engage à développer des solutions innovantes telles que ces produits AFM, à créer des valeurs sociales et environnementales avec nos clients, ainsi qu’à contribuer à une fabrication de pointe.

(1) Porte-à-faux prémonté : cette méthode utilise une puce de cassette avec un porte-à-faux préinstallé pour le montage du levier.

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